二手安捷倫Agilent 8453紫外可見分光光度計簡介：

Agilent 8453紫外(wai)可見分光(guang)光(guang)度計使用的(de)(de)二(er)極管陣列(lie)(lie)技術，符合歐洲藥(yao)典（EP）和(he)美(mei)國藥(yao)典（USP）所有規(gui)范要(yao)求。Agilent 8453具備二(er)極管陣列(lie)(lie)的(de)(de)優勢，氘、鎢雙燈設計，波長范圍190－1100mm，快(kuai)速光(guang)譜掃描可獲得全光(guang)譜信息，適用于樣品鑒定和(he)純度驗(yan)證。高通量光(guang)路，確保信噪(zao)比，獲得高靈敏度。

經(jing)濟適用型（8453E）

性能優(you)良(liang)，經(jing)濟實用，手(shou)持控制器的全中(zhong)文界面，簡化操作。內置任務(wu)說明提示用戶進(jin)行必要參數的設置，附(fu)件安裝簡便，即插即用，旱(han)期(qi)維修反(fan)饋（EMF）確保測定(ding)結果可靠。

通用型(xing)（8453）

Agilent 8453有多種分(fen)析軟件可(ke)供選擇，兼容性(xing)好，自動化(hua)程度(du)高(gao)，易學、易用、快(kuai)速采(cai)集光譜(pu)、快(kuai)速數據處理，分(fen)析效(xiao)率(lv)高(gao)。加上診斷工具，如性(xing)能驗證（OQ/PV）、系(xi)統記錄（logbook）和系(xi)統的可(ke)靠性(xing)、只需(xu)花更小的時間進行管理或維護和維修(xiu)。

高級軟件(jian)：科(ke)研(yan)和方(fang)法(fa)開發的解決方(fang)案(an)可以和安全軟件(jian)包結(jie)合，支持21CFR Part11

生化分(fen)析(xi)軟(ruan)件；生化分(fen)析(xi)的解決方案，具有多(duo)池動(dong)力(li)學，熱(re)變性和蛋白(bai)質/核酸分(fen)析(xi)功能。

二手安捷倫Agilent 8453紫外可見分光光度計技術參數：

光源 ：預校(xiao)準氘燈鎢(wu)燈；

檢測(ce)(ce)器：1024二極管(guan)陣列檢測(ce)(ce)器

波長范(fan)圍：190～1100nm；

波長準確度：優于0.2nm（氘(dao)燈486.0nm和656.1nm特(te)征譜線）

波長重(zhong)復性：優于(yu)0.02nm

光譜(pu)帶寬(kuan)：1nm

分(fen)辨(bian)率：﹥1.6

雜散(san)光(guang)：<0.03%T（340nm,NaNO2溶液ASTM方法）

光度精度：<0.005（440、590nm處(chu)吸光度值1.0A中(zhong)性密(mi)度濾光片）；

基(ji)線平滑(hua)度：±0.001Abs；

穩定性：±0.001Abs/h；

二安捷倫Agilent 8453紫外可見分光光度主要特點(dian)：

Agilent 8453紫(zi)外-可見分光(guang)光(guang)度計使用了(le)的(de)二極(ji)管陣(zhen)列技術：

符合歐(ou)洲藥典(dian)（EP）和(he)美國藥典(dian)（USP）所有規(gui)范要求；

占用空(kong)間少，節省(sheng)臺面；

氘燈和(he)鎢燈光源經過預(yu)定位，便于維護；

通過GPIB或LAN通訊聯接，實現(xian)或網絡PC控制；

敞開式(shi)的(de)樣(yang)品池區，便于樣(yang)品處理；

高通量光路，確保信(xin)噪比(bi)，獲得高靈敏度；

波長重(zhong)復性，可選(xuan)擇更佳(jia)波長，并使用電子標(biao)準；

移動部(bu)件少，光柵(zha)不需要轉動，非常可靠耐用；

二極管陣列(lie)的優勢(shi)

經過二(er)十多年開發(fa)和(he)生產(chan)二(er)極管陣列分光(guang)光(guang)度(du)計的(de)經驗積累，Agilent 8453具備(bei)以下明顯優勢：

快(kuai)速光譜(pu)掃描(miao)獲(huo)得(de)全光譜(pu)信息（快(kuai)達0.1S內獲(huo)得(de)全波長譜(pu)圖），可用(yong)于：

1）樣品的定性和純度(du)驗證；

2）提供法規監控(kong)環境下所需(xu)的(de)“性能測(ce)試(shi)結果之(zhi)外”的(de)額外信息；

3）不同方法的再評價；

4）多波長應用，例如，用戶定義的公式；

5）反應動力學(xue)的研究，快(kuai)速獲得(de)樣品在各個波長下吸光度的變化趨勢(shi)。