是光譜分析的常用儀器之一，是檢測金屬元素的常規儀器。主要有氫火焰、石墨爐及混合型原子吸收，其中石墨爐原子吸收光譜儀以石墨爐為原子化器，靈敏度高，試樣用量少，能檢測10-12g/mL級別的元素，在痕量分析中使用廣泛。原子吸收光譜儀在使用時會遇到四大干擾因素，影響檢測結果，那么，有哪四種干擾呢？如何消除干擾？在這里為大家匯總一下原子吸收的四大干擾消除方法！

其一：物理(li)干擾

試樣在轉移、蒸(zheng)發過程中物理因素(su)變化(hua)引(yin)起的干(gan)擾效(xiao)應，主要影(ying)(ying)響試樣噴入火焰(yan)的速(su)度、進(jin)樣量、霧(wu)化(hua)效(xiao)率、原子化(hua)效(xiao)率、霧(wu)滴(di)大小等。物理干(gan)擾是非(fei)選擇性干(gan)擾，對各種元素(su)影(ying)(ying)響基本(ben)相同。

干(gan)擾因素消(xiao)除方法：

1）配置相(xiang)似(si)組成(cheng)的標準(zhun)樣品，采用(yong)標準(zhun)加(jia)入(ru)法(fa)；

2）盡可能避免使用粘(zhan)度大(da)的硫(liu)酸(suan)、磷酸(suan)來(lai)處理(li)試樣；

3）當試(shi)樣(yang)濃度較高時(shi)，適(shi)當稀釋試(shi)液也可以抑制物理干(gan)擾。

其二(er)：化學(xue)干擾

待測元素與(yu)其(qi)它組分之間的化學(xue)作用(yong)，生(sheng)成了難揮發(fa)或難解離的化合(he)物，使基態原數目減少所引起(qi)的干擾效應。主要(yao)影(ying)響(xiang)到待測元素的原子(zi)化效率(lv)，是(shi)主要(yao)干擾源。化學(xue)干擾是(shi)選擇性(xing)干擾。

成因分析：

1）分子蒸(zheng)發(fa)(fa)：待測元(yuan)素形成易揮(hui)發(fa)(fa)鹵化(hua)(hua)物(wu)和某些氧化(hua)(hua)物(wu)，在灰(hui)化(hua)(hua)溫(wen)度下(xia)蒸(zheng)發(fa)(fa)損失；

2）形(xing)成難離(li)解的化(hua)合物(wu)（氧化(hua)物(wu)、炭化(hua)物(wu)、磷化(hua)物(wu)等）；

3）氧(yang)化(hua)物(wu)：較難原子化(hua)的(de)元素B、Ti、Zr、V、Mo、Ru、Ir、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、U；

4）很難原(yuan)子化(hua)的元素：Os、Re、Nd、Ta、Hf、W；

5）炭化物(wu)：Be、B、Al、Ti、Zr、V、W、Si、U稀土等形(xing)成(cheng)難揮發炭化物(wu)；

6）磷化物：Ca3PO4等。

干擾(rao)因素消除方法：

1）提高(gao)火(huo)焰溫度(du)使得難解離的化合物較*基態原子(zi)化。

2）加(jia)入釋(shi)放劑(ji)，與干擾元(yuan)素生(sheng)成(cheng)更穩定(ding)(ding)或更難揮發(fa)的化(hua)合物，使待測(ce)元(yuan)素釋(shi)放出來(lai)。常用的釋(shi)放劑(ji)：LaCl3、Sr（NO3）2等。（如：火焰原子吸收法測(ce)定(ding)(ding)鈣(gai)，磷(lin)酸鹽的存在會(hui)生(sheng)成(cheng)難揮發(fa)的Ca2P2O7，此時可以加(jia)入LaCl3，則(ze)La3+與PO43-生(sheng)成(cheng)熱(re)更穩定(ding)(ding)的LaPO4，抑制了磷(lin)酸根對鈣(gai)測(ce)定(ding)(ding)的干擾。）

3）加(jia)入保護劑，待(dai)測(ce)元素形成(cheng)(cheng)穩(wen)定的(de)絡合物(wu)，防止待(dai)測(ce)元素與干擾物(wu)質生(sheng)成(cheng)(cheng)難揮發化合物(wu)。常用的(de)保護劑：EDTA、8-羥基喹林(lin)、乙二醇等。（如：火焰原子吸收(shou)法測(ce)定鈣，磷酸鹽的(de)存在會生(sheng)成(cheng)(cheng)難揮發的(de)Ca2P2O7，加(jia)入EDTA，生(sheng)成(cheng)(cheng)EDTA-Ca絡合物(wu)，該絡合物(wu)在火焰中易于原子化，避免磷酸根與鈣作用。）

4）加入基(ji)(ji)體改進(jin)(jin)劑，改變(bian)基(ji)(ji)體或被測元(yuan)素的(de)熱穩定性，避免化學干擾，這些化學試劑稱(cheng)為基(ji)(ji)體改進(jin)(jin)劑。（如：測定海(hai)水中Cu、Fe、Mn，加入基(ji)(ji)體改進(jin)(jin)劑NH4NO3，使(shi)(shi)NaCl基(ji)(ji)體轉變(bian)成易(yi)揮發的(de)NH4Cl和NaNO3，使(shi)(shi)其(qi)在原子(zi)化之前(qian)低于500℃的(de)灰化階段(duan)除(chu)去。）

5）化(hua)(hua)學(xue)分(fen)離法(fa)(fa)，用(yong)化(hua)(hua)學(xue)方法(fa)(fa)將待測元素(su)與干擾(rao)元素(su)分(fen)離。常用(yong)的化(hua)(hua)學(xue)分(fen)離法(fa)(fa)：萃取法(fa)(fa)、離子交換法(fa)(fa)、沉淀法(fa)(fa)。

其三：電干擾

某些易電離(li)(li)元素在火焰(yan)中產生電離(li)(li)，使(shi)基態(tai)原(yuan)子數減(jian)少，降低了元素測定的靈敏度，這種(zhong)干(gan)擾(rao)稱為(wei)電離(li)(li)干(gan)擾(rao)。電離(li)(li)干(gan)擾(rao)的程度與(yu)火焰(yan)溫(wen)度及元素種(zhong)類有關(guan)。

干擾(rao)因(yin)素消除方法(fa)：

采用低溫(wen)火焰或在(zai)試液中加入過量的(de)更易電(dian)離(li)的(de)化合物（消(xiao)電(dian)離(li)劑(ji)），能夠有效地抑(yi)制待(dai)測元素的(de)電(dian)離(li)。在(zai)火焰溫(wen)度下，消(xiao)電(dian)離(li)劑(ji)首先(xian)電(dian)離(li)，產(chan)生大(da)量的(de)電(dian)子(zi)，抑(yi)制了被測元素的(de)電(dian)離(li)。

其四：光譜(pu)干擾

光譜干(gan)擾主要分為譜線干(gan)擾和(he)(he)背景干(gan)擾兩種(zhong)。主要來源(yuan)于光源(yuan)和(he)(he)原子化器。

1. 發射(she)線(xian)的(de)(de)鄰近線(xian)的(de)(de)干擾：指(zhi)空心(xin)陰極燈的(de)(de)元(yuan)(yuan)素(su)、雜質或載(zai)氣元(yuan)(yuan)素(su)的(de)(de)發射(she)線(xian)與待測(ce)元(yuan)(yuan)素(su)共振(zhen)線(xian)的(de)(de)重(zhong)疊(die)干擾；吸(xi)收(shou)(shou)線(xian)重(zhong)疊(die)的(de)(de)干擾：指(zhi)試樣(yang)中共存元(yuan)(yuan)素(su)吸(xi)收(shou)(shou)線(xian)與待測(ce)元(yuan)(yuan)素(su)共振(zhen)線(xian)的(de)(de)重(zhong)疊(die)干擾。

譜(pu)線干擾消(xiao)除方法：

減小單(dan)色器的光(guang)譜(pu)通帶(dai)寬度，提高(gao)儀器的分辨率，使元素的共振線(xian)(xian)與干(gan)擾譜(pu)線(xian)(xian)*分開。或(huo)選擇其(qi)它吸收線(xian)(xian)等方(fang)法抑制譜(pu)線(xian)(xian)干(gan)擾。

2. 背景干(gan)擾主(zhu)要是指原子化過程(cheng)中產生的(de)(de)分(fen)子吸收和固體微粒產生的(de)(de)光散射干(gan)擾效應。

背景干擾消除方法：

（1）火(huo)焰：改(gai)變火(huo)焰類型、燃助比、調節火(huo)焰觀(guan)測區高度(du)。

石墨爐：選用(yong)適當的基體(ti)改進劑。

（2）光譜背景的校(xiao)正

A、用鄰近非共(gong)振線校正背景

用分析線測量(liang)原(yuan)子吸(xi)收與(yu)背(bei)景吸(xi)收的總吸(xi)光度(du)，在分析線鄰近選一條非共(gong)振(zhen)線，此時測出(chu)的是背(bei)景吸(xi)收，兩次(ci)測量(liang)值之差(cha)即為校正(zheng)背(bei)景后的吸(xi)光度(du)。這種校正(zheng)方(fang)法準(zhun)確度(du)較(jiao)(jiao)差(cha)，只適用于分析線附近背(bei)景分布比較(jiao)(jiao)均勻的情況。

B、用連(lian)續(xu)光源校正背景

用銳線光(guang)源測定(ding)分析(xi)線的(de)原子吸(xi)(xi)(xi)收(shou)和背(bei)(bei)景(jing)吸(xi)(xi)(xi)收(shou)的(de)總吸(xi)(xi)(xi)光(guang)度(du)，再用氘(dao)燈（紫外區）或碘鎢(wu)燈（可(ke)見區）在同一波長測定(ding)背(bei)(bei)景(jing)吸(xi)(xi)(xi)收(shou)，計算(suan)兩次測定(ding)吸(xi)(xi)(xi)光(guang)度(du)之(zhi)差，即為校(xiao)正背(bei)(bei)景(jing)后(hou)的(de)吸(xi)(xi)(xi)光(guang)度(du)。由于(yu)空心陰極燈與氘(dao)燈兩種連續光(guang)源放電性質不(bu)(bu)同，能(neng)量分布(bu)不(bu)(bu)同，會導致(zhi)背(bei)(bei)景(jing)校(xiao)正不(bu)(bu)足或過度(du)。

C、用(yong)塞曼效(xiao)應校正(zheng)背景

塞(sai)曼(man)效應校正(zheng)背景基于磁場(chang)將吸收線分(fen)裂為具有不同偏振方向的組分(fen)，利用這些分(fen)裂的偏振成分(fen)來(lai)區別(bie)被測元素(su)和(he)背景吸收。塞(sai)曼(man)效應校正(zheng)背景的準確度(du)高，但儀器價(jia)格較貴。